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電子顯微鏡按結(jié)構(gòu)和作用可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用于觀(guān)察那些用一般顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物資結(jié)構(gòu)；掃描式電子顯微鏡主要用于觀(guān)察固體表面的形貌，也能與X射線(xiàn)衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物資成分剖析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。投射式電子顯微鏡因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像擴(kuò)大而得名。它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿。在這種電子顯微鏡中，圖像細(xì)節(jié)的對(duì)比度是由樣品的原子對(duì)電子束的散...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡之間的一種觀(guān)察手段。它是運(yùn)用聚焦十分窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束合物質(zhì)間的相互作用，來(lái)激發(fā)各種物理信息，對(duì)這些信息收集、放大還有再成像為了達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀(guān)形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率能夠達(dá)到1nm；放大倍數(shù)能夠達(dá)到三十萬(wàn)倍或者以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。除此之外，掃描電子顯微鏡與其他分析儀器相結(jié)合，能夠做到觀(guān)察微觀(guān)形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶...

掃描電鏡中STEM透射模式的應(yīng)用透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對(duì)于有機(jī)高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強(qiáng)，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應(yīng)用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。有機(jī)太陽(yáng)能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機(jī)固體實(shí)驗(yàn)室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀(guān)察其分相結(jié)構(gòu)時(shí)，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無(wú)法區(qū)分，而應(yīng)用掃描電鏡的STEM模式觀(guān)察時(shí)，可清楚地觀(guān)察到兩相的結(jié)構(gòu)。應(yīng)用透射電鏡觀(guān)察生物樣品時(shí)...

掃描電子顯微鏡SEM的基本知識(shí)，一定要了解在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程，可以觀(guān)察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界，也可以觀(guān)察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及主要性能掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣...

掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀(guān)察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。一.原理：如果入射電子撞擊樣品表面原子的外層電子，把它激發(fā)出來(lái)，就形成低能量的二次電子，在電廠(chǎng)的作用下它可呈曲線(xiàn)運(yùn)動(dòng)，翻越障礙進(jìn)入檢測(cè)器，使表面凹凸的各個(gè)部分都...